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在使用紅外測溫時(shí),如何減少環(huán)境與背景輻射的影響
點(diǎn)擊次數(shù):3090 更新時(shí)間:2017-11-24
   在使用紅外測溫時(shí),如何減少環(huán)境與背景輻射的影響
  當(dāng)我們?cè)趹敉庥?strong>紅外測溫進(jìn)行電力設(shè)備紅外檢測時(shí),檢測儀器所接收的紅外輻射除了受檢設(shè)備相應(yīng)部位的輻射還有其自身發(fā)射的輻射,以外,還會(huì)包括設(shè)備其他部位和背景的反射,以及直接射入太陽輻射。這些輻射都將對(duì)設(shè)備待測部位的溫度造成干擾,對(duì)故障檢測帶來誤差。
  為了減少環(huán)境與背景輻射的影響,應(yīng)采取如下對(duì)策措施:
  盡可能選擇在陰天或者在日落左右傍晚無光照時(shí)間進(jìn)行
  這樣可以防止直接入射、反射和散射的太陽輻射影響,對(duì)戶內(nèi)設(shè)備可以采用關(guān)掉照明燈,以及要避開其他的輻射影響。紅外測溫
  對(duì)于高反射的設(shè)備表面
  應(yīng)該采取適當(dāng)措施來減少對(duì)太陽輻射及周圍高溫物體輻射的影響。或者改變檢測角度,找到能避開反射的*角度進(jìn)行檢測。
  為減少太陽輻射及周圍高溫背景的輻射影響
  可在檢測時(shí)采取適當(dāng)?shù)恼趽醮胧?,或者在紅外熱像儀器上加裝適當(dāng)?shù)募t外濾光片,以便濾除太陽及其他背景輻射。
  選擇參數(shù)適宜的儀器和檢測距離進(jìn)行檢測,使受檢測的設(shè)備部位充滿儀器視場,從而減少背景輻射的干擾
  紅外測溫尤其是溫度對(duì)于設(shè)備的使用壽命,使用時(shí)間,使用地點(diǎn),都會(huì)給出相應(yīng)的建議,讓您的生產(chǎn)過程中達(dá)到zui高的效率,的使用狀態(tài)